非晶質半導体薄膜の透過スペクトルの測定

文献

J-GLOBAL ID：200902207061953936 整理番号：04A0592868

The Measurement of the Transmission Spectrum of an Amorphous Semiconductor Thin Film

出版者サイト {{ this.onShowPLink() }} 複写サービスで全文入手 {{ this.onShowCLink("http://jdream3.com/copy/?sid=JGLOBAL&noSystem=1&documentNoArray=04A0592868&COPY=1") }}
高度な検索・分析はJDreamⅢで {{ this.onShowJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=04A0592868&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=L2127A") }}

著者 (1件)：
資料名：
巻： 2003 ページ： 58 発行年： 2004年07月
JST資料番号： L2127A ISSN： 0911-5730 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：短報発行国：日本 (JPN) 言語：英語 (EN)

,...

続きはJDreamIII（有料）にて {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=04A0592868&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=L2127A") }}

物理化学一般その他 , 光物性一般 , 半導体薄膜

, ,

前のページに戻る