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J-GLOBAL ID：200902207089685228   整理番号：08A1247365

強磁性Ge_1-xMn_x層における介在物からの散漫X線散乱

Diffuse x-ray scattering from inclusions in ferromagnetic Ge_1-xMn_x layers

著者 (9件)： HOLY V. (Charles Univ., Prague, CZE) ,  LECHNER R. T. (Johannes Kepler Univ. Linz, Linz, AUT) ,  AHLERS S. (Technische Univ. Muenchen, Garching, DEU) ,  HORAK L. (Charles Univ., Prague, CZE) ,  METZGER T. H. (ESRF, Grenoble, FRA) ,  NAVARRO-QUEZADA A. (Johannes Kepler Univ. Linz, Linz, AUT) ,  TRAMPERT A. (P. Drude Inst. Festkoerperelektronik, Berlin, DEU) ,  BOUGEARD D. (Technische Univ. Muenchen, Garching, DEU) ,  BAUER G. (Johannes Kepler Univ. Linz, Linz, AUT)
資料名： Physical Review. B. Condensed Matter and Materials Physics  (Physical Review. B. Condensed Matter and Materials Physics)
巻： 78  号： 14  ページ： 144401.1-144401.7  発行年： 2008年10月 
JST資料番号： D0746A  ISSN： 1098-0121  CODEN： PRBMDO  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： X線回折マッピングに基づいて分子線エピタキシー法で作製したGeMnエピ層における介在物についての構造情報を与えた。放射光によるすれすれ入射回折(GID)について報告する。これらの方法は一般に使用される局所的に敏感な透過型電子顕微法と比べてはるかに大きな試料体積を探測し,歪み状態に関する精確な情報を提供する。GID実験からGe_1-xMn_xエピ層の面内格子定数を決定しただけでなく,散漫散乱強度の測定した。散漫X線散乱の理論的記述に基づいて面内介在物の平均半径,そしてコヒーレントクラスター中のMn濃度に関する評価を導出した。さらに,一次X線ビームの入射角,したがって侵入深度を変化させることにより,Ge_1-xMn_x層の厚さの関数としてMnに富む介在物の情報を求めた。

シソーラス用語： *強磁性 ,  *磁性薄膜 ,  金属薄膜 ,  *MBE成長 ,  エピタクシー ,  *ゲルマニウム合金 ,  マンガン含有合金 ,  X線回折 ,  シンクロトロン放射 ,  *すれすれ入射 ,  電子顕微鏡観察 ,  残留歪 ,  格子定数 ,  散漫散乱 ,  *介在物

分類 (1件)： 金属薄膜  (BK14030T)

タイトルに関連する用語 (3件)： 強磁性 ,  介在物 ,  X線散乱