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J-GLOBAL ID：200902207310701586   整理番号：09A0751112

陽電子計測で得られるイオン照射金属材料中の損傷分布について

著者 (6件)： 木野村淳 (産業技術総合研) ,  鈴木良一 (産業技術総合研) ,  大平俊行 (産業技術総合研) ,  大島永康 (産業技術総合研) ,  伊藤賢志 (産業技術総合研) ,  小林慶規 (産業技術総合研)
資料名： KURRI-KR (CD) (CD-ROM)  (KURRI-KR (CD) (CD-ROM))
号： 23  ページ： ROMBUNNO.28  発行年： 2008年 
JST資料番号： L5681A  ISSN： 1349-7960  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 純度99.99%のFeとNiに150keVのArイオンを一様に照射し,空孔欠陥の拡がりを低速陽電子ビームを用いて測定し,試料中の欠陥分布を調べた。電子線形加速器を陽電子源として陽電子寿命を測定し,Na-22線源を用いてDoppler広がりを測定した。Feの場合,欠陥分布が表面から約270nmまで拡がっているとすると,Sパラメータのエネルギー依存性とVEPFITコードによる計算結果が良く一致した。TRIMコードでは,欠陥は表面から約150nmまでに分布した。

シソーラス用語： *イオン照射 ,  *空孔欠陥 ,  陽電子ビーム ,  *寿命 ,  Doppler効果 ,  S行列 ,  エネルギー依存性 ,  計算機シミュレーション
準シソーラス用語： 低速陽電子ビーム ,  *陽電子寿命 ,  Sパラメータ

分類 (1件)： 金属の格子欠陥  (BK12030F)

タイトルに関連する用語 (6件)： 陽電子 ,  計測 ,  イオン照射 ,  金属材料 ,  損傷 ,  分布