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J-GLOBAL ID:200902207355852615   整理番号:06A0120730

X線回折顕微法の原理

Principles of x-ray diffraction microscopy
著者 (2件):
資料名:
巻: 19  号:ページ: 3-14  発行年: 2006年01月31日 
JST資料番号: L0956A  ISSN: 0914-9287  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 解説  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
抄録/ポイント:
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周期構造を持たない試料の回折強度データから電子密度分布を再生...
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準シソーラス用語:
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分類 (1件):
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非晶質の構造一般 
引用文献 (43件):
  • GOODMAN, J. W. Introduction to Fourier Optics. 1996
  • http://www-xfel.spring8.or.jp/
  • 北村英男. 放射光. 2003, 16, 77
  • SAYRE, D. Acta Crystallogr. 1952, 5, 843
  • SAYRE, D. Imaging Processes and Coherence in Physics. 1980, 229
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