文献

J-GLOBAL ID：200902207919644848   整理番号：03A0530442

低温走査型トンネル顕微鏡により観察した10K以下のSi(001)2×1表面の2量体バックリング

Dimer buckling of the Si(001)2×1 surface below 10K observed by low-temperature scanning tunneling microscopy.

著者 (6件)： ONO M (Univ. Tokyo, Kashiwa, JPN) ,  KAMOSHIDA A (Univ. Tokyo, Kashiwa, JPN) ,  MATSUURA N (Univ. Tokyo, Kashiwa, JPN) ,  ISHIKAWA E (Univ. Tokyo, Kashiwa, JPN) ,  EGUCHI T (Univ. Tokyo, Kashiwa, JPN) ,  HASEGAWA Y (Univ. Tokyo, Kashiwa, JPN)
資料名： Physical Review. B. Condensed Matter and Materials Physics  (Physical Review. B. Condensed Matter and Materials Physics)
巻： 67  号： 20  ページ： 201306.1-201306.4  発行年： 2003年05月 
JST資料番号： D0746A  ISSN： 1098-0121  CODEN： PRBMDO  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 走査型トンネル顕微鏡(STM)を使って,10K以下の低温でS...

シソーラス用語： *ケイ素 ,...

   続きはJDreamIII（有料）にて  {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=03A0530442&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=D0746A") }}

分類 (1件)： 半導体の表面構造  (BK15030A)

タイトルに関連する用語 (6件)： 低温 ,  走査型トンネル顕微鏡 ,  観察 ,  Si ,  2量体 ,  バックリング