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J-GLOBAL ID:200902208206582865   整理番号:08A0845862

FT30逆浸透膜の活性層での官能基の定量とそのイオン化挙動のモデリング

Quantification of Functional Groups and Modeling of Their Ionization Behavior in the Active Layer of FT30 Reverse Osmosis Membrane
著者 (4件):
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巻: 42  号: 14  ページ: 5260-5266  発行年: 2008年07月15日 
JST資料番号: B0839A  ISSN: 0013-936X  CODEN: ESTHA  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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薄膜複合材料逆浸透(RO)膜の活性層での帯電した官能基(FG)の濃度を溶液pHの関数として測定した。ポリスルホン支持体とコーティング層との間に挟んだ芳香族ポリアミド(PA)活性層を有するFT30 RO膜を用い,イオンプローブで帯電したFGを飽和させ,Rutherford後方散乱分光法(RBS)によってイオンプローブ濃度を定量した。脱プロトン化カルボキシル基をAg+で飽和させ,アミン基をWO42+でプロトン化し,カルボキシル基とアミン基のイオン化挙動を酸塩基平衡理論に基づいてモデル化した。モデルの結果は文献で報告されているFT30の活性層での二峰性細孔径分布と一致した。また計算したカルボキシル基とアミン基の全濃度から,調べたFT30 RO薄膜のPA活性層の橋かけ度が94%であることを示した。
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分類 (2件):
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高分子固体のその他の性質  ,  膜分離 

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