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J-GLOBAL ID：200902209568837140   整理番号：08A0799482

錫メッキ厚の差により生じる摺動コンタクトの微細構造に関する研究

Micro-Structural Study of Fretting Contact Caused by the Difference of the Tin Plating Thickness

著者 (6件)： ITO Tetsuya (AutoNetworks Technol., Ltd., Suzuka-shi, JPN) ,  SAWADA Shigeru (AutoNetworks Technol., Ltd., Suzuka-shi, JPN) ,  HATTORI Yasuhiro (AutoNetworks Technol., Ltd., Suzuka-shi, JPN) ,  SAITOH Yasushi (Mie Univ., Tsu-shi, JPN) ,  TAMAI Terutaka (Mie Univ., Tsu-shi, JPN) ,  IIDA Kazuo (Mie Univ., Tsu-shi, JPN)
資料名： IEICE Transactions on Electronics (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers)  (IEICE Transactions on Electronics (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： E91-C  号： 8  ページ： 1199-1205  発行年： 2008年08月01日 
JST資料番号： L1370A  ISSN： 0916-8524  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 近年,乗客の乗り心地のため,自動車内電子装置用に配分された設置空間の削減と電子装置量の増加により,ワイヤリングハーネス・コネクターの最小型化の需要が増してきた。この需要とともに,摺動腐蝕により生じるコンタクト不良が,重大な問題となることが予想される。走査型電子顕微鏡(SEM)と透過型電子顕微鏡(TEM)などを用いて,2種類の異なる錫メッキ厚の摺動コンタクトの微細構造の観測について調べた。この結果を基に,錫メッキ厚の差により生じる摺動タクトの微細構造の相違を比較した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *スズめっき ,  微細構造 ,  *めっき厚 ,  擦過腐食 ,  ワイヤリングハーネス ,  *電気接点 ,  *接続品質 ,  *故障解析 ,  走査電子顕微鏡 ,  透過型電子顕微鏡 ,  カーエレクトロニクス
準シソーラス用語： 摺動接点

分類 (1件)： 電気接点  (NA05070V)

引用文献 (8件)：

• HOOYER, J. M. The influence of practical contact parameters of fretting corrosion of tin-bass low-level connector contacts. Proc. Holm Conf. Electrical Contacts, 1987. 1987, 43
• LEE, A. Fretting corrosion of tin plated copper alloy. Proc. Holm Conf. Electrical Contacts, 1986. 1986, 45
• ITO, T. Factors influencing the fretting corrosion of tin plated contacts. Proc. Holm Conf. Electrical Contacts, 2006. 2006, 267
• ANTLER, M. Survey of contact fretting in electrical connectors. Proc. Holm Conf. Electrical Contacts, 1984. 1984, 3
• HEATON, C. E. High cycle fretting corrosion studies on tin-coated contact materials. Proc. Holm Conf. Electrical Contacts, 2001. 2001, 209

タイトルに関連する用語 (6件)： 錫 ,  メッキ厚 ,  摺動 ,  コンタクト ,  微細構造 ,  研究