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J-GLOBAL ID:200902209943301466   整理番号:09A0882422

固体熱物性 パルス加熱サーモリフレクタンス法を用いた薄膜熱物性標準の整備

著者 (3件):
資料名:
巻: 59  号:ページ: 36-41  発行年: 2009年08月20日 
JST資料番号: F0771A  ISSN: 1880-1420  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 解説  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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相変化メモリ(次世代不揮発性メモリ)は,記録層の熱的性質が記録密度や記録度に密接に係わっている。産業技術総合研究所計測標準研究部門(NMIJ/AIST)では,薄膜の膜厚方向の熱拡散率を定量的に測定すべく,パルス加熱サーモリフレクタンス法による測定手法を開発した。また当技術を用いて金属薄膜の熱拡散時間を校正するサービスを2006年3月より開始した。本稿ではパルス加熱サーモリフレクタンス法につき概説し,標準供給,標準整備への取組内容を述べた。国家標準からユーザまでの計測システムの一体的整備は,高信頼性熱設計の実現と日本の先端産業における開発競争力やモノ作りの支援効果が期待できる。
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分類 (2件):
分類
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その他の熱的変量の計測法・機器  ,  金属の比熱・熱伝導 
引用文献 (18件):
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