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J-GLOBAL ID：200902211089284670   整理番号：09A0293708

平らな基板上で測定された再注型Nafion膜におけるプロトン伝導率の抑制

Depression of proton conductivity in recast Nafion film measured on flat substrate

著者 (6件)： SIROMA Zyun (Res. Inst. for Ubiquitous Energy Devices, National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Ikeda ...) ,  KAKITSUBO Ryou (Res. Inst. for Ubiquitous Energy Devices, National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Ikeda ...) ,  FUJIWARA Naoko (Res. Inst. for Ubiquitous Energy Devices, National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Ikeda ...) ,  IOROI Tsutomu (Res. Inst. for Ubiquitous Energy Devices, National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Ikeda ...) ,  YAMAZAKI Shin-ichi (Res. Inst. for Ubiquitous Energy Devices, National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Ikeda ...) ,  YASUDA Kazuaki (Res. Inst. for Ubiquitous Energy Devices, National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Ikeda ...)
資料名： Journal of Power Sources  (Journal of Power Sources)
巻： 189  号： 2  ページ： 994-998  発行年： 2009年04月15日 
JST資料番号： B0703B  ISSN： 0378-7753  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 側面方向(界面に平行な)における再注型Nafion薄膜のプロトン伝導率を湿潤雰囲気で測定した。膜厚が小さくなると伝導率は小さくなった。たとえば,約100nm厚みの膜の伝導率は全材料より約1桁小さかった。温度に対する伝導率の依存性を測定した。より薄い膜は伝導のためのより大きな見かけの活性化エネルギーを示した。伝導のための伝導率と見かけの活性化エネルギーの両方が厚みに影響されるので,これらの現象は材料における固有の変化のためである。乾燥条件下,バルク膜における伝導率のための見かけの活性化エネルギーが大きいという事実から,薄膜における伝導率のための大きな見かけの活性化エネルギーは水吸着の妨害のためである。Copyright 2009 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *固体高分子形燃料電池 ,  フッ素樹脂 ,  陽イオン交換樹脂 ,  *高分子薄膜 ,  プロトン伝導 ,  活性化エネルギー ,  吸着水
準シソーラス用語： *プロトン交換膜燃料電池 ,  Nafion

分類 (1件)： 燃料電池  (YB04040V)

タイトルに関連する用語 (3件)： 注型 ,  Nafion ,  プロトン伝導率