スーパーコネクトレベルの微細配線パターンに対する電気的信頼性の交流インピーダンス法による評価

文献

J-GLOBAL ID：200902211263361710 整理番号：04A0384359

Evaluation of Electric Reliability for Super Connect Level Refined Wiring Pattern by Means of AC Impedance Method.

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巻： 7 号： 3 ページ： 271-275 発行年： 2004年05月01日
JST資料番号： S0579C ISSN： 1343-9677 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：日本 (JPN) 言語：日本語 (JA)

半導体ICとプリント基板実装差を埋めるスーパーコネクト(デザ...

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プリント回路 , 信頼性

引用文献 (3件)：

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