文献
J-GLOBAL ID：200902211378283283   整理番号：07A0206087

FPGAの応用依存遅延試験

Application-Dependent Delay Testing of FPGAs
著者 (2件)：
TAHOORI Mehdi B.

TAHOORI Mehdi B. について

(Northeastern Univ., MA, USA)

Northeastern Univ., MA, USA について

, 
MITRA Subhasish

MITRA Subhasish について

(Stanford Univ., CA, USA)

Stanford Univ., CA, USA について


資料名：
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems  (IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems)

IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems について


巻： 26  号： 3  ページ： 553-563  発行年： 2007年03月 
JST資料番号： B0142C  ISSN： 0278-0070  CODEN： ITCSDI  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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FPGAにマッピングする設計に関する新しい遅延故障試験技法を...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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FPGA

FPGA について

,...
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分類 (2件)：
分類
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固体デバイス計測・試験・信頼性 
(NC03040G)

固体デバイス計測・試験・信頼性 について

,  CAD,CAM 
(JE10000A)

CAD,CAM について

タイトルに関連する用語 (4件)：
タイトルに関連する用語
J-GLOBALで独自に切り出した文献タイトルの用語をもとにしたキーワードです
FPGA

FPGA について

, 
応用

応用 について

, 
遅延

遅延 について

, 
試験

試験 について


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