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J-GLOBAL ID：200902211977348105   整理番号：06A0004462

ICP発光分光分析におけるイオン化干渉と測光方式の関係について

著者 (6件)： 大橋和夫 (パーキンエルマージャパン) ,  敷野修 (パーキンエルマージャパン) ,  本多和人 (パーキンエルマージャパン) ,  一之瀬達也 (パーキンエルマージャパン) ,  上村由紀 (パーキンエルマージャパン) ,  恩田宣彦 (パーキンエルマージャパン)
資料名： 分析化学討論会講演要旨集  (分析化学)
巻： 66th  ページ： 167  発行年： 2005年04月30日 
JST資料番号： X0009A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *ICP-AES分析 ,...
準シソーラス用語： イオン化干渉 ,...

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分類 (1件)： 分光分析  (CC03012W)

タイトルに関連する用語 (4件)： ICP発光分光分析 ,  イオン化 ,  干渉 ,  測光