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J-GLOBAL ID：200902212595857120   整理番号：05A0990825

薄膜の熱物理特性測定用ピコ秒サーモリフレクタンス法における電気的遅延技術

Electrical delay technique in the picosecond thermoreflectance method for thermophysical property measurements of thin films

著者 (3件)： TAKETOSHI Naoyuki (National Metrology Inst. of Japan, National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), 1-1-1 Umezono ...) ,  BABA Tetsuya (National Metrology Inst. of Japan, National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), 1-1-1 Umezono ...) ,  ONO Akira (National Metrology Inst. of Japan, National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), 1-1-1 Umezono ...)
資料名： Review of Scientific Instruments  (Review of Scientific Instruments)
巻： 76  号： 9  ページ： 094903-094903-8  発行年： 2005年09月 
JST資料番号： D0517A  ISSN： 0034-6748  CODEN： RSINAK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： パルス加熱後の薄膜の温度応答の観測時間を延長するために電気的...

シソーラス用語： *熱反射率 ,...
準シソーラス用語： サーモリフレクタンス

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分類 (2件)： 熱物性一般  (BL05010C) ,  光学的測定とその装置一般  (BD07010S)

タイトルに関連する用語 (5件)： 薄膜 ,  物理特性 ,  ピコ秒 ,  サーモリフレクタンス法 ,  遅延