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J-GLOBAL ID：200902212961514206   整理番号：03A0566741

水素結合酸性度または塩基性度が異なる化学修飾チップを用いた走査型トンネル顕微鏡法によるヒドロキシ及びカルボキシラト部分の選択的観測

Selective observation of hydroxy and carboxylate moieties by scanning tunneling microscopy using chemically modified tips with differing extents of hydrogen bond acidity or basicity

著者 (3件)： NISHINO T (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  ITO T (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  UMEZAWA Y (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
資料名： Journal of Electroanalytical Chemistry  (Journal of Electroanalytical Chemistry)
巻： 550/551  ページ： 125-129  発行年： 2003年07月17日 
JST資料番号： D0037A  ISSN： 1572-6657  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 標記の化学修飾チップによって,HOPGに物理吸着したCH<s...

シソーラス用語： *単分子層 ,...
準シソーラス用語： HOPG ,...

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分類 (3件)： 有機化合物の薄膜  (BK14070L) ,  顕微鏡法  (BK01040E) ,  電極過程  (CB07040U)

物質索引 (5件)： 4-メルカプトピリジン ,  2-メルカプト安息香酸 ,  チオフェノール ,  4-メルカプトベンゼンスルホン酸 ,  ベヘン酸16-ヒドロキシヘキサデシル

タイトルに関連する用語 (7件)： 水素結合 ,  酸性度 ,  塩基性度 ,  化学修飾 ,  走査型トンネル顕微鏡法 ,  カルボキシラト ,  観測