文献
J-GLOBAL ID：200902214389005900 整理番号：06A0946389
高速なテスト・パターン変換を実現したCATVertの変換アルゴリズム
Fast Test Pattern Conversion Algorithm in CATVert
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著者 (1件)：
戸森貴弘
戸森貴弘 について
名寄せID(JGPN) 200901100483003075 ですべてを検索
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(
アドバンテスト
)
アドバンテスト について
名寄せID(JGON) 201551000096902588 ですべてを検索
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資料名：
Probo (Probo)
Probo について
JST資料番号 L1550A ですべてを検索
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号：
27
ページ：
46-51
発行年：
2006年10月27日
JST資料番号：
L1550A
資料種別：
逐次刊行物 (A)
記事区分：
解説
発行国：
日本 (JPN)
言語：
日本語 (JA)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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近年,半導体デバイスの高機能化による大規模化および微細化によ...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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*半導体集積回路
半導体集積回路 について
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分類 (1件)：
分類
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半導体集積回路
(NC03162T)
半導体集積回路 について
分類コード NC03162T で文献を検索
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引用文献 (2件)：
「オブジェクト指向における再利用のためのデザイン・パターン」エリック・ガンマ著
Seongmoon Wang 他, “XWRC: Externally-loaded-Weighted Random Pattern Testing for Input Test Data Compressiod” ITC Proc Paper 24-2, November 2005.
タイトルに関連する用語 (2件)：
タイトルに関連する用語
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アルゴリズム
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