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J-GLOBAL ID:200902214643693803   整理番号:08A0882753

ホルムアルデヒド酸化によって発生する電位振動に影響を及ぼす塩化物イオン

Chloride ion influencing potential oscillation generated by formaldehyde oxidation
著者 (3件):
資料名:
巻: 53  号: 27  ページ: 7817-7824  発行年: 2008年11月15日 
JST資料番号: B0535B  ISSN: 0013-4686  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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ホルムアルデヒドの酸化によって発生する電位振動に対する塩化物イオン(10-7~10-1M)の効果を0.1Mホルムアルデヒドを含む硫酸溶液中315Kで多結晶白金を用いて検討した。塩化物イオン濃度が10-5M以下のとき,緩和振動が表れる2つの電流領域の間で大振幅台形振動が表れ,これより低い電流では緩和振動と交互に表れた。さらに低い電流では緩和振動は正弦波振動に変化し,次いでよく知られた混沌を作り出した。塩化物イオン濃度が10-4と3×10-4Mとの間のとき,緩和振動は消え,交互振動は混沌を示し,混沌の特性はすでに述べた混沌の特性と異なっていた。塩化物イオン濃度が10-3M以上のとき,単純な大振幅台形振動が優勢となり,緩和振動との交替はなくなり,混沌ははるかに小さくなった。さまざまな塩化物イオン濃度で測定したボルタモグラムによってさまざまな観測振動の間の表面吸着状態を考察した。Copyright 2008 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.
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分類 (2件):
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電極電位,起電力  ,  固-液界面 
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