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J-GLOBAL ID：200902215032997773   整理番号：03A0659175

正弦波を用いたTDR法による特性インピーダンス測定法の開発

Development of New Characteristic Impedance Measurement Method Using Sinusoidal Wave TDR

著者 (3件)： 作左部剛視 (拓殖大 工) ,  高橋丈博 (拓殖大 工) ,  渋谷昇 (拓殖大 工)
資料名： エレクトロニクス実装学会誌  (Journal of Japan Institute of Electronics Packaging)
巻： 6  号： 6  ページ： 516-519  発行年： 2003年09月01日 
JST資料番号： S0579C  ISSN： 1343-9677  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 電子機器の高速・高周波化に伴い,高周波に対するプリント配線板...

シソーラス用語： *プリント基板 ,...
準シソーラス用語： *OTDR ,...

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分類 (2件)： プリント回路  (NA05040O) ,  R,L,C,Q,インピーダンス,誘電率の計測法・機器  (AD07030N)

引用文献 (3件)：

• 平山博. 電気回路論. 2003
• タイムドメインリフレクトメトリの原理. Agilent アプリケーションノート. 2002
• 澁谷昇. 信号信頼性とEMC. エレクトロニクス実装学会誌. 2002, 5, 2, 192-196

タイトルに関連する用語 (5件)： 正弦波 ,  TDR法 ,  特性インピーダンス ,  測定法 ,  開発