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J-GLOBAL ID：200902218179664850   整理番号：05A0374600

n型のZnO上のPt Schottky接点の特性におよぼす過酸化水素処理の効果

Effect of hydrogen peroxide treatment on the characteristics of Pt Schottky contact on n-type ZnO

著者 (3件)： KIM Sang-Ho (Gwangju Inst. of Sci. and Technol., Gwangju, KOR) ,  KIM Han-Ki (Samsung SDI, Gyeonggi-Do, KOR) ,  SEONG Tae-Yeon (Gwangju Inst. of Sci. and Technol., Gwangju, KOR)
資料名： Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)
巻： 86  号： 11  ページ： 112101.1-112101.3  発行年： 2005年03月14日 
JST資料番号： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： Zn終端ZnO(0001)面上のPt接点について,Schot...

シソーラス用語： 化合物半導体 ,...

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分類 (2件)： 半導体-金属接触  (BM03084G) ,  半導体のルミネセンス  (BM08092S)

タイトルに関連する用語 (3件)： ZnO ,  PT ,  過酸化水素