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J-GLOBAL ID：200902218184701305   整理番号：05A0764931

超電導材料特性計測技術-マッピング技術の進展を中心として-局所熱浸透率測定装置を用いたYBCO薄膜の熱浸透率の分布測定

Distribution Measurement of Thermal Effusivity for YBCO Thin-film Superconducting Material Using Thermal Microscope

著者 (3件)： 池内賢朗 (産業技術総合研 計測標準研究部門) ,  八木貴志 (産業技術総合研 計測標準研究部門) ,  加藤英幸 (産業技術総合研 計測標準研究部門)
資料名： 低温工学  (Journal of Cryogenics and Superconductivity Society of Japan)
巻： 40  号： 8  ページ： 335-339  発行年： 2005年08月25日 
JST資料番号： S0846A  ISSN： 0389-2441  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 低温工学分野では高周波フィルタや限流器への応用が期待される高...

シソーラス用語： *超伝導薄膜 ,...
準シソーラス用語： 熱浸透率

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分類 (1件)： 超伝導体の物性一般  (BM04021A)

引用文献 (10件)：

• 1) N. Taketoshi, T. Baba and A. Ono: “Development of a thermal diffusivity measurement system for metal thin films using a picosecond thermoreflectance technique”, Meas. Sci. Technol. 12 (2001) 2064-2073
• 2) N. Taketoshi, M. Ozawa, H. Ozawa and T. Baba: “Thermal effusivity distribution measurements using a thermoreflectance technique”, in Proceeding of 10th International Conference of Photoacoustic and Photothermal Phenomena, (1999) 315
• 3) A. Rosencwaing, J. Opsal, W. L. Smith and D. L. Willenborg: “Detection of thermal waves through optical reflectance”, Appl. Phys. Lett. 46 (1985) 1013-1016
• 4) T. Manabe, M. Sohma, I. Yamaguchi, W. Kondo, K. Tsukada, S. Mizuta and T. Kumagai: “Preparation of high-J_c large-size YBCO films (30 × 10 cm²) by coating-pyrolysis process on CeO₂-buffered sapphire”, Physica C 412-414 (2004) 896-899
• 5) T. Yagi, N. Taketoshi and H. Kato: “Distribution analysis of thermal effusivity for sub-micrometer YBCO thin films using thermal microscope”, Physica C 412-414 (2004) 1337-1342

タイトルに関連する用語 (9件)： 超電導 ,  材料特性 ,  計測技術 ,  マッピング ,  進展 ,  熱浸透率 ,  測定装置 ,  YBCO薄膜 ,  分布