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J-GLOBAL ID:200902218723167156   整理番号:08A1188429

可変温度における任意基板上のグラフェンのRamanナノ測定学

Raman nanometrology of graphene on arbitrary substrates and at variable temperature
著者 (7件):
資料名:
巻: 7037  ページ: 70371B.1-70371B.8  発行年: 2008年 
JST資料番号: D0943A  ISSN: 0277-786X  CODEN: PSISDG  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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グラフェンは六角形格子に配列した単一炭素層からなり,異常な性質故に科学及び応用の分野で注目されている。グラフェン技術の開発には種々の材料との集積と層数や欠陥の厳密な制御が必要である。従って,任意の温度及び基板に対するRaman分光法のナノ測定能力の拡張が重要である。二次元バンドのデコンボリューションにより,ガラスやサファイアのような基板上のグラフェン層を計数できることを示した。また,低励起レーザパワーでも,グラフェンを強く加熱でき,温度係数を測定できることを示した。
シソーラス用語:
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分類 (1件):
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炭素とその化合物 
タイトルに関連する用語 (2件):
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