ZHAO W について
Sarnoff Corp. について
CHELLAPPA R について
Univ. Maryland について
PHILLIPS P J について
National Inst. Standards and Technol. について
ROSENFELD A について
ACM Computing Surveys について
顔 について
図形・画像処理一般 について
パターン認識 について
顔認識 について
文献調査 について
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