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J-GLOBAL ID：200902220224838141   整理番号：05A0564566

Shanghai-EBITの現状

Status of the Shanghai EBIT

著者 (11件)： ZHU Xiaofeng (The Key Lab of Applied Ion Beam Physics, Fudan Univ., Shanghai 200433, CHN) ,  LIU Yong (The Key Lab of Applied Ion Beam Physics, Fudan Univ., Shanghai 200433, CHN) ,  WANG Xincheng (The Key Lab of Applied Ion Beam Physics, Fudan Univ., Shanghai 200433, CHN) ,  LIU Yafeng (The Key Lab of Applied Ion Beam Physics, Fudan Univ., Shanghai 200433, CHN) ,  GUO Panlin (Shanghai Inst. of Applied Physics, CAS, Shanghai 201800, CHN) ,  LU Di (The Key Lab of Applied Ion Beam Physics, Fudan Univ., Shanghai 200433, CHN) ,  ZHANG Xuemei (The Key Lab of Applied Ion Beam Physics, Fudan Univ., Shanghai 200433, CHN) ,  HU Wei (The Key Lab of Applied Ion Beam Physics, Fudan Univ., Shanghai 200433, CHN) ,  HE Mianhong (The Key Lab of Applied Ion Beam Physics, Fudan Univ., Shanghai 200433, CHN) ,  LILJEBY Leif (Manne Siegbahn Lab., Stockholm Univ., Stockholm, SWE) ,  ZOU Yaming (The Key Lab of Applied Ion Beam Physics, Fudan Univ., Shanghai 200433, CHN)
資料名： Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms  (Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms)
巻： 235  号： 1-4  ページ： 509-513  発行年： 2005年07月 
JST資料番号： H0899A  ISSN： 0168-583X  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： このレポートでは,Shanghai-EBITプロジェクトの現...

シソーラス用語： *イオントラッピング ,...
準シソーラス用語： EBIT

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分類 (2件)： 電子源,イオン源  (BD02020U) ,  原子ビーム,分子ビーム  (BH01020Z)

タイトルに関連する用語 (2件)： EBIT ,  現状