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J-GLOBAL ID：200902220893219570   整理番号：09A0567637

SSADTによるマイクロ波電気製品のストレージ寿命と信頼性評価

Storage life and reliability evaluation of microwave electronical product by SSADT

著者 (4件)： Li xiaoyang (Dept.of System Engineering of Engineering Technol., Beijing Univ. of Aeronautics and Astronautics, Beijing) ,  Jiang tongmin (Dept.of System Engineering of Engineering Technol., Beijing Univ. of Aeronautics and Astronautics, Beijing) ,  Huang tao (Inst. of Remote-Sensing Equipment, Beijing) ,  Li gengyu (Inst. of Remote-Sensing Equipment, Beijing)
資料名： Beijing Hangkong Hangtian Daxue Xuebao  (Beijing Hangkong Hangtian Daxue Xuebao)
巻： 34  号： 10  ページ： 1135-1138  発行年： 2008年 
JST資料番号： C2402A  ISSN： 1001-5965  CODEN： BHHDE8  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 高ストレージ信頼性システムは,ストレージ時間の長い周期にわたって非常に高い信頼性の組み立て部品を要求する。厳しい時間と経費の制約下で,ステップストレス加速劣化試験(SSADT)をマイクロ波電気製品のストレージ信頼性と寿命の評価に利用した。最初に,SSADTの前提を与えた。マイクロ波装置に由来する故障モード効果と限界分析(FMECA)と欠陥ツリー分析(FTA)に基づき,加速モデルを決定した。そこで,信頼性評価モデルが,線形ドリフトブラウン運動結合で作られた。線形ドリフトブラウン運動の独立インクレメントプロパティにより,最尤回帰分析を信頼性モデルのパラメータの評価に用いられた。ストレージ信頼性と寿命へのパワーサイクルの影響を除くため,劣化レート変換法と線形ドリフトブラウン運動の変換関数を,GJB108-98として提出した。工学的応用によって,提案した方法論により合理的評価結果が得られることを確認した。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST

シソーラス用語： *シミュレーション ,  *アルゴリズム ,  *モデリング ,  *記憶装置 ,  *マイクロ波 ,  *評価 ,  *寿命 ,  *製品 ,  *電力 ,  Brown運動 ,  モデル ,  パラメータ ,  故障モード ,  サイクル ,  ストレス ,  ドリフト ,  回帰分析 ,  信頼性 ,  方法論
準シソーラス用語： *ストレージ ,  *信頼性評価 ,  *電気 ,  信頼性システム ,  加速劣化試験 ,  信頼性モデル

分類 (3件)： 飛しょう体の設計・構造  (QK04010H) ,  システム最適化手法  (IA02050Z) ,  計算機シミュレーション  (JE11000H)

タイトルに関連する用語 (5件)： マイクロ波 ,  電気製品 ,  ストレージ ,  寿命 ,  信頼性評価