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J-GLOBAL ID：200902221110986597   整理番号：09A0226968

EMI発生源同定のための近傍界と遠方界の時間同期

Time Synchronized Near-field and Far-field for EMI Source Identification

著者 (5件)： FENG Gang (Missouri Univ. Sci. & Technol., MO, USA) ,  WU Wei (Missouri Univ. Sci. & Technol., MO, USA) ,  POMMERENKE David (Missouri Univ. Sci. & Technol., MO, USA) ,  FAN Jun (Missouri Univ. Sci. & Technol., MO, USA) ,  BEETNER Daryl G. (Missouri Univ. Sci. & Technol., MO, USA)
資料名： IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility  (IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility)
巻： 2008 Vol.2  ページ： 748-752  発行年： 2008年 
JST資料番号： E0041A  ISSN： 2158-110X  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 高速オシロスコープと関連する後処理技法とを使用した近傍界と遠方界の同期測定手法を紹介した。EMI(電磁干渉)発生源の位置確認と結合経路の同定はEMI障害分析にとって重要な問題だが,従来方法では高度に複雑な放射信号に対しては不充分であり,時間同期させた近傍界と遠方界の測定が,より多くの情報を得るのに有用である。提案手法では,近傍界のプローブからと遠方界のアンテナからの信号を高速オシロスコープで記録し,他の後処理手法を介して,それらの信号の関係を分析する。雑音発生源を同定するために,近傍界プローブの位置を変化させ,遠方界信号と最も良い相関を示すプローブ信号を探す。後処理手法として,STFFT(短期高速Fourier変換)を用いて周波数成分の時間依存性を可視化する。さらに,包絡相関,コヒーレンスファクタ,相互相関手法について,放射発生源同定の能力とその試験について説明した。

シソーラス用語： *電磁干渉 ,  近傍場 ,  遠方場 ,  同期 ,  オシロスコープ ,  高速Fourier変換 ,  相関 ,  コヒーレンス ,  同定 ,  電磁波放射 ,  可視化 ,  後処理
準シソーラス用語： *EMI【電磁干渉】 ,  *遠方界 ,  可視化手法 ,  *近傍界 ,  *時間同期

分類 (1件)： 雑音測定  (ND04030F)

タイトルに関連する用語 (5件)： EMI ,  発生源 ,  同定 ,  近傍界 ,  遠方界