文献
J-GLOBAL ID:200902222777981034
整理番号:05A0764933
超電導材料特性計測技術-マッピング技術の進展を中心として-第三高調波誘導法による超電導体の臨界電流密度の評価-超電導薄膜・バルク材の臨界電流密度-
Evaluation of Critical Current Density in Superconductors by an Inductive Method Measuring Third-harmonic Voltages-Critical Current Density in Superconducting Films and Bulk Materials-
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