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J-GLOBAL ID：200902223783273242   整理番号：08A1154503

Bi2212/Ag/Ag合金複合ワイヤにおけるBi2212芯のYoung率,残留歪み,および固有破壊歪みの評価

Estimation of Young’s modulus, residual strain and intrinsic fracture strain of Bi2212 filaments in Bi2212/Ag/Ag alloy composite wire

著者 (9件)： SHIN J. K. (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  OCHIAI S. (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  OKUDA H. (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  MUKAI Y. (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  MATSUBAYASHI H. (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  OH S. S. (Korea Electrotechnology Res. Inst., Changwon, KOR) ,  HA D. W. (Korea Electrotechnology Res. Inst., Changwon, KOR) ,  KIM S. C. (Nexans Korea Ltd., Chungbuk, KOR) ,  SATO M. (Japan Synchrotron-radiation Res. Inst. (JASRI), Sayo, JPN)
資料名： Advances in Superconductivity  (Advances in Superconductivity)
巻： 20th  ページ： 1792-1795  発行年： 2008年 
JST資料番号： L1458A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 引張り試験,X線回折測定および熱機械分析の結果を結びつけて,Bi2212/Ag/Ag合金複合ワイヤにおけるBi2212芯の室温におけるYoung率,熱誘起残留歪み,固有破壊歪および熱膨張係数の評価を試みた。複合体の応力-歪み曲線の解析から,Bi2212芯のYoung率は66.3GPaと推定された。冷却中に成分(Bi2212,Ag,およびAg合金)間の熱膨張の違いにより導入されたBi2212芯の熱誘起残留歪みは,in situシンクロトロン放射回折によりー0.14%と推定された。複合ワイヤの応力-歪み曲線の解析では推定される残留歪みを代用したが,それからのBi2212芯の固有破壊歪みは0.11-0.13%であった。Bi2212芯の熱膨張係数は,300K~400Kで測定されたBi2212複合体の熱膨張と引張り試験結果から推定した特性値を組み合わせた解析から,11.5×10^-6K^-1と推定された。

シソーラス用語： カルシウム化合物 ,  ストロンチウム化合物 ,  ビスマス化合物 ,  酸化物 ,  銅化合物 ,  *高温超伝導体 ,  *銀 ,  *銀合金 ,  *複合材料 ,  *金属線 ,  *Young率 ,  *残留歪 ,  *破壊 ,  *歪 ,  引張試験 ,  X線回折 ,  熱機械分析 ,  熱膨張係数 ,  応力歪曲線 ,  熱膨張 ,  シンクロトロン放射
準シソーラス用語： *Bi2212 ,  ワイヤ ,  芯

分類 (1件)： 超伝導材料  (BM04041W)

タイトルに関連する用語 (10件)： Bi2212 ,  Ag ,  Ag合金 ,  複合ワイヤ ,  芯 ,  Young率 ,  残留歪み ,  固有 ,  破壊歪み ,  評価