文献

J-GLOBAL ID：200902224327853411   整理番号：05A0914517

金属材料上の薄層のGDOES,SIMS及びXPS深さプロフィリングの比較研究

A Comparative Study of GDOES, SIMS and XPS Depth Profiling of Thin Layers on Metallic Materials

著者 (2件)： SUZUKI S. (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  KAKITA K. (Nippon Steel Technoresearch Corp.,)
資料名： Journal of Surface Analysis  (Journal of Surface Analysis)
巻： 12  号： 2  ページ： 174-177  発行年： 2005年09月05日 
JST資料番号： L3852A  ISSN： 1341-1756  CODEN： JSANFX  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 2種類の表面薄膜のGDOES(グロー放電光学発光分光分析)に...

シソーラス用語： クロム ,...

   続きはJDreamIII（有料）にて  {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=05A0914517&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=L3852A") }}

分類 (1件)： 固体の表面構造一般  (BK15010E)

タイトルに関連する用語 (7件)： 金属材料 ,  薄層 ,  GDOES ,  SIMS ,  XPS ,  深さプロフィリング ,  研究