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J-GLOBAL ID：200902225297564360   整理番号：05A0980501

自己探索プローブである陽電子による物質内部のナノ領域分析

Nano-Scale Analysis for Materials by Positron: Self-Seeking Probe

著者 (2件)： 永井康介 (東北大 金属材料研) ,  長谷川雅幸 (東北大 金属材料研)
資料名： 日本物理学会誌
巻： 60  号： 11  ページ： 842-849  発行年： 2005年11月05日 
JST資料番号： F0221A  ISSN： 0029-0181  CODEN： NBGSA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 電子の反粒子である陽電子を物質中に入射すると,その多くは電子...

シソーラス用語： *陽電子ビーム ,...
準シソーラス用語： ナノ領域分析

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分類 (2件)： その他の構造決定法  (BK01070L) ,  物理分析一般  (CC03011F)

引用文献 (35件)：

• 2) K. Fujiwara and O. Sueoka: J. Phys. Soc. Jpn. 21 (1966) 1947.
• 3) W. Brandt and A. Dupasquier, ed.: Positron Solid-State Physics (NorthHolland, Amsterdam, 1983).
• 4) P. Hautojarvi, P., ed.: Positron in Solids (Springer-Verlag, Berlin, Heidelberg, New York, 1979).
• 5) R. Krause-Rehberg and H.S. Leipner: Positron Annihilation in Semiconductors (Springer-Verlag, Berlin, Heidelberg, 1999)
• 6) A. Dupasquier and A.P. Mills, Jr., ed.: Positron Spectroscopy of Solids (IOS Press, 1995).

タイトルに関連する用語 (6件)： 自己 ,  探索 ,  プローブ ,  陽電子 ,  物質 ,  分析