Mn-N化合物薄膜の電子状態密度のXPS測定

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J-GLOBAL ID：200902226184171392 整理番号：03A0583512

Electronic Density of State of Mn-N Thin Films Measured by XPS

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巻： 24 号： 8 ページ： 480-484 発行年： 2003年08月10日
JST資料番号： F0940B ISSN： 0388-5321 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：日本 (JPN) 言語：日本語 (JA)

(111)配向したε-Mn₄Nと(11...

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その他の無機化合物の薄膜 , 半導体結晶の電子構造 , 塩

引用文献 (18件)：

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