コンダクタンスのnmスケールでの確率変動:一般現象

WASSEL R A; FUIERER R R; KIM N; GORMAN C B

文献

J-GLOBAL ID：200902226398682963 整理番号：03A0877899

コンダクタンスのnmスケールでの確率変動:一般現象

Stochastic Variation in Conductance on the Nanometer Scale: A General Phenomenon

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巻： 3 号： 11 ページ： 1617-1620 発行年： 2003年11月
JST資料番号： W1332A ISSN： 1530-6984 CODEN： NALEFD 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：短報発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

nmスケールの金属/分子/金属型接合体のコンダクタンス(Cd...

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物理的手法を用いた吸着の研究 , その他の接合

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