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J-GLOBAL ID：200902228242647460   整理番号：08A0745064

単結晶に於ける応力状態を測定する為の最先端のX線回折法

State of the Art X-ray Diffraction Methods for Measuring Stress State in a Single Crystal

著者 (3件)： IMAFUKU Muneyuki (Nippon Steel Technoresearch Corp., Chiba, JPN) ,  AKITA Koichi (Musashi Inst. Technol., Tokyo, JPN) ,  SHOBU Takahisa (Japan Atomic Energy Agency, Hyogo, JPN)
資料名： Transactions of the Materials Research Society of Japan  (Transactions of the Materials Research Society of Japan)
巻： 33  号： 2  ページ： 381-384  発行年： 2008年06月 
JST資料番号： L4468A  ISSN： 1382-3469  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： エンジニアリング材料に於ける残留応力はこれら材料の実用に於ける性能や信頼性に極めて重要な因子である。我々は単結晶に於ける応力状態を測定する為に,二種類のX線回折方法を開発した。一つは表面に於ける面内残留応力測定の為にラボ用X線回折をチューニングした。二番目の方法は単結晶の内部の残留応力の調査に適したものであり,高エネルギーシンクロトロン放射設備を使用する。これらの方法を使用して我々はレーザを照射したFe単結晶の残留応力の解析に成功した。

シソーラス用語： *残留応力 ,  *応力測定 ,  *単結晶 ,  先端技術 ,  *X線回折 ,  平面応力 ,  内部応力 ,  多重回帰分析 ,  シンクロトロン放射 ,  レーザ照射 ,  鉄 ,  応力解析 ,  *計測 ,  解析

分類 (2件)： 力,仕事量,圧力,摩擦の計測法・機器  (AD05050V) ,  金属材料  (HC02020X)

引用文献 (8件)：

• I. C. Noyan and J. B. Cohen: Residual stress -Measurement by Diffraction and Interpretation-,(Springer-Verlag, New York, 1987) chap. 5.
• Imura T, Weismann S, Slade JJ Jr. J. Acta Cryst., 15, 786-793(962).
• Onaga T, Honda K. J. Jpn Soc. Mech. Eng., 73 792-797(1970).(in Japanese)
• Y. Yoshioka, S. Ohya and Y. Suyama: Proc. 5th Int. Conf. on Residual Stresses, Ed. T. Ericsson, M. Odén and A. Andersson,(Linköping, Sweden, 1997) pp. 528-533.
• H. Suzuki, K. Akita and H. Misawa: Jpn. J. Appl. Phys., 42, 2876-2880(2003).

タイトルに関連する用語 (4件)： 単結晶 ,  応力状態 ,  最先端 ,  X線回折法