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J-GLOBAL ID：200902228816988503   整理番号：06A0084047

円フィットおよび2モード技術による誘電体共振器法を用いた超伝導膜の表面抵抗のマイクロ波パワー依存性測定

Microwave Power Dependence Measurement of Surface Resistance of Superconducting Films Using a Dielectric Resonator Method with Circle Fit and Two-Mode Techniques

著者 (2件)： OBARA Haruhiko (National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Tsukuba-shi, JPN) ,  KOSAKA Shin (National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Tsukuba-shi, JPN)
資料名： IEICE Transactions on Electronics (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers)  (IEICE Transactions on Electronics (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： E89-C  号： 2  ページ： 125-131  発行年： 2006年02月01日 
JST資料番号： L1370A  ISSN： 0916-8524  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 超伝導膜表面抵抗のマイクロ波パワー依存性測定システムを開発し...

シソーラス用語： *超伝導薄膜 ,...
準シソーラス用語： 測定回路 ,...

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分類 (2件)： 超伝導材料  (BM04041W) ,  その他の電磁気的量の計測法・機器  (AD07070F)

引用文献 (12件)：

• KOBAYASHI, Y. Microwave measurement of temperature and current dependences of surface impedance for high-T_c superconductors. IEEE Trans. Microw. Theory Tech. 1991, 39, 9, 1530-1538
• WILKER, C. A Sapphire resonator for microwave characterization of superconducting thin films. IEEE Trans. Appl. Supercond. 1993, 3, 1, 1457-1460
• MAZIERSKA, J. Dielectric resonator as a possible standard for characterization of high temperature superconducting films for microwave applications. J. Superconductivity. 1997, 10, 2, 73-85
• LEONG, K. Accurate measurement of surface resistance of HTS films using a noble transmission mode Q-factor technique. J. Superconductivity. 2001, 14, 1, 93-103
• HASHIMOTO, T. An image-type dielectric resonator method to measure surface resistance of a high-T_c superconductor film. IEICE Trans. Electron., C. 2004, E87-C, 5, 681-688

タイトルに関連する用語 (7件)： 円 ,  フィット ,  誘電体共振器 ,  超伝導膜 ,  表面抵抗 ,  マイクロ波 ,  パワー依存性