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J-GLOBAL ID：200902230097609800   整理番号：07A0117106

制御回路用のE/D PHEMTプロセスの信頼性

Reliability of E/D PHEMT Process for Control Circuit Applications
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著者 (2件)：
YANG Xinxing

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(M/A-COM, MA)

M/A-COM, MA について

, 
ERSLAND Peter

ERSLAND Peter について

(M/A-COM, MA)

M/A-COM, MA について


資料名：
2005 ROCS Workshop Proceedings  (2005 ROCS Workshop Proceedings)

2005 ROCS Workshop Proceedings について


ページ： 175-180  発行年： 2005年 
JST資料番号： K20060009  ISBN： 0-7908-0106-X  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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M/A-COM社の新しいE/D(強化/空乏型)pHEMTプロ...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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*制御回路

制御回路 について

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*PHEMT

PHEMT について

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分類 (4件)：
分類
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トランジスタ 
(NC03070N)

トランジスタ について

,  固体デバイス製造技術一般 
(NC03030V)

固体デバイス製造技術一般 について

,  固体デバイス計測・試験・信頼性 
(NC03040G)

固体デバイス計測・試験・信頼性 について

,  その他の電子回路 
(NC05090X)

その他の電子回路 について

タイトルに関連する用語 (2件)：
タイトルに関連する用語
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PHEMT

PHEMT について

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プロセス

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