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J-GLOBAL ID：200902231126894809   整理番号：03A0184149

Fresnelゾーンプレートによる100nm以下の硬X線マイクロビームの発生

Sub-100nm Hard X-Ray Microbeam Generation with Fresnel Zone Plate Optics.

著者 (3件)： TAKANO H (Japan Synchrotron Radiation Res. Inst., Hyogo, JPN) ,  SUZUKI Y (Japan Synchrotron Radiation Res. Inst., Hyogo, JPN) ,  TAKEUCHI A (Japan Synchrotron Radiation Res. Inst., Hyogo, JPN)
資料名： Japanese Journal of Applied Physics. Part 2. Letters  (Japanese Journal of Applied Physics. Part 2. Letters)
巻： 42  号： 2A  ページ： L132-L134  発行年： 2003年02月01日 
JST資料番号： F0599B  ISSN： 0021-4922  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： シンクロトロン放射源を使ってFresnelゾーンプレートの硬...

シソーラス用語： *ゾーンプレート ,...

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分類 (1件)： X線技術  (BA02060D)

引用文献 (19件)：

• 1) C. Jacobsen, S. Abend, T. Beetz, M. Carlucci-Dayton, M. Feser, K. Kaznacheyev, J. Kirz, J. Maser, U. Neuhausler, A. Osanna, A. Stein, C. Vaa, Y. Yang, B. Winn and S. Warwick: X-ray Microscopy, Proc. 6th Int. Conf., eds. W. Meyer-Ilse, T. Worwick and D. Attwood (American Institute of Physics, New York, 2000) p. 12.
• 2) R. J. Phaneuf, H. C. Kan, M. Marsi, L. Gregoratti, S. Gunther and L. Gregoratti: J. Appl. Phys. 88 (2000) 863.
• 3) C. C. Sloop, H. Ade, R. E. Fornes, R. D. Gilbert and A. P. Smith: J. Polym. Sci. B 39 (2001) 531.
• 4) M. Feser, C. Jacobsen, P. Rehak, G. DeGeronimo, P. Holl and L. Strüder: Proc. SPIE 4499 (2001) 117.
• 5) R. Maser, A. Osanna, Y. Wang, C. Jacobsen, J. Kirz, S. Spector and B. Winn: J. Microscopy 197 (2000) 68.

タイトルに関連する用語 (3件)： Fresnelゾーンプレート ,  硬X線 ,  マイクロビーム