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J-GLOBAL ID：200902236414748339   整理番号：05A0514012

すれすれ入射小角X線散乱によるブロック共重合体薄膜の構造解析

Structural Analysis of Block Copolymer Thin Films with Grazing Incidence Small-Angle X-ray Scattering

著者 (8件)： LEE Byeongdu (Pohang Univ. Sci. & Technol., Pohang, KOR) ,  PARK Insun (Pohang Univ. Sci. & Technol., Pohang, KOR) ,  YOON Jinhwan (Pohang Univ. Sci. & Technol., Pohang, KOR) ,  PARK Soojin (Pohang Univ. Sci. & Technol., Pohang, KOR) ,  KIM Jehan (Pohang Univ. Sci. & Technol., Pohang, KOR) ,  KIM Kwang-Woo (Pohang Univ. Sci. & Technol., Pohang, KOR) ,  CHANG Taihyun (Pohang Univ. Sci. & Technol., Pohang, KOR) ,  REE Moonhor (Pohang Univ. Sci. & Technol., Pohang, KOR)
資料名： Macromolecules  (Macromolecules)
巻： 38  号： 10  ページ： 4311-4323  発行年： 2005年05月17日 
JST資料番号： B0952A  ISSN： 0024-9297  CODEN： MAMOBX  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 基板上の重合体薄膜のすれすれ入射小角X線散乱(GISAXS)...

シソーラス用語： すれすれ入射 ,...

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分類 (1件)： 高分子固体の構造と形態学  (CG02022M)

物質索引 (2件)： イソプレン ,  スチレン

タイトルに関連する用語 (4件)： すれすれ入射小角X線散乱 ,  ブロック共重合体 ,  薄膜 ,  構造解析