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J-GLOBAL ID：200902236615647280   整理番号：09A1203471

ポリアクリルアミド超薄膜の熱劣化の開始速度

Onset Kinetics of Thermal Degradation of Ultrathin Polyacrylamide Films

著者 (6件)： MUKHERJEE S. (Saha Inst. of Nuclear Physics, Kolkata, IND) ,  MONDAL Mojammel H. (Saha Inst. of Nuclear Physics, Kolkata, IND) ,  MUKHERJEE M. (Saha Inst. of Nuclear Physics, Kolkata, IND) ,  DOYLE B. P. (INFM, CNR, Basovizza (TS), ITA) ,  NANNARONE S. (INFM, CNR, Basovizza (TS), ITA) ,  NANNARONE S. (Universita di Modena e Reggio Emilia, Modena, ITA)
資料名： Macromolecules  (Macromolecules)
巻： 42  号： 20  ページ： 7889-7896  発行年： 2009年10月27日 
JST資料番号： B0952A  ISSN： 0024-9297  CODEN： MAMOBX  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 表面酸化処理したSi基板上にポリアクリルアミド(PAM)溶液をスピンキャストすることで厚み約300ÅのPAM超薄膜(I)を調製した。Iの220°Cでの熱劣化をNEXAFS,XPS,X線反射により調べた。Iは熱劣化によりアミド単位の劣化と同時に単環状及び二環状イミド官能基を形成したことが分かった。大部分のPAMは加熱30分以内で劣化し時間が経つにつれて劣化速度が低下し劣化生成物の濃度は約3時間で飽和した。最終生成物は単環状イミド約60%,二環状イミド約40%を含んだ。劣化によりIの厚みが減少し電子密度が増した。Iの界面モルフォロジーは熱劣化後もほぼ元と変わらなかった。

シソーラス用語： 熱劣化 ,  超薄膜 ,  *高分子薄膜 ,  *ポリアクリルアミド ,  反応速度 ,  イミド化 ,  アニーリング【現象】 ,  電子密度 ,  環化反応 ,  モルフォロジー ,  時間依存性
準シソーラス用語： 環化

分類 (1件)： 高分子の分解,劣化  (CG03010A)

タイトルに関連する用語 (3件)： ポリアクリルアミド ,  超薄膜 ,  熱劣化