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J-GLOBAL ID:200902237222447943   整理番号:05A0652351

4H-SiC(0001)Si面上の遷移金属(Fe,Zr)の界面研究 光電子放出顕微鏡と軟X線蛍光分光法

Interface study of transition metal (Fe, Zr) on 4H-SiC(0001)Si face: photoemission electron microscopy and soft X-ray fluorescence spectroscopy
著者 (8件):
資料名:
巻: 249  号: 1-4  ページ: 362-366  発行年: 2005年08月15日 
JST資料番号: B0707B  ISSN: 0169-4332  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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遷移金属薄膜(Fe,Zr)/4H-SiC(基板)接触システム...
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分類 (3件):
分類
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半導体-金属接触  ,  光電子放出  ,  X線スペクトル一般 
物質索引 (2件):
物質索引
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