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J-GLOBAL ID:200902240158477613   整理番号:09A1084367

サブ1nm間隔におけるヘッドディスクインターフェース浮上性と耐久性の実験的研究

Experimental Study of Head-Disk Interface Flyability and Durability at Sub-1-nm Clearance
著者 (5件):
資料名:
巻: 45  号: 10  ページ: 3624-3627  発行年: 2009年10月 
JST資料番号: A0339B  ISSN: 0018-9464  CODEN: IEMGAQ  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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商用の浮上性試験機によりHDI(ヘッドディスクインターフェース)を試験した。ディスク及びヘッドジンバルアセンブリ(HGA)をスピンスタンド上に取付ける。装置はスピンドル,アームアクチュエータ,ストレインアーム等から成る。音響放射(AE)センサー及び高精度歪みゲージがストレインアームに一体化されている。FH(浮上高)は加熱器に電流を加えてH-PTP(加熱器-ポールチップ突出)で制御する。最初に加熱電力とFH変化の関係を較正する。2次の多項式により結果をフィッティングした。用いたスライダーは1nmDFH(動的FH)間隔で少くとも15h安定に動作したが,0.5nm間隔では数時間後に間欠的接触を生じた。
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分類 (2件):
分類
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電子・磁気・光学記録  ,  記憶装置 
タイトルに関連する用語 (4件):
タイトルに関連する用語
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