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J-GLOBAL ID：200902240206829551   整理番号：08A0709692

単眼カメラ・ステレオ視による電子デバイスのための端子リードの高精度3次元検査

3D Precise Inspection of Terminal Lead for Electronic Devices by Single Camera Stereo Vision

著者 (4件)： WATANABE Takashi (Chukyo Univ., Toyota-shi, JPN) ,  KUSANO Akira (Chukyo Univ., Toyota-shi, JPN) ,  FUJIWARA Takayuki (Chukyo Univ., Toyota-shi, JPN) ,  KOSHIMIZU Hiroyasu (Chukyo Univ., Toyota-shi, JPN)
資料名： IEICE Transactions on Information and Systems (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers)  (IEICE Transactions on Information and Systems (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： E91-D  号： 7  ページ： 1885-1892  発行年： 2008年07月01日 
JST資料番号： L1371A  ISSN： 0916-8532  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 視覚的検査の手段により工業製品の品質を保証することは非常に重要である。本稿は,製造過程における端子変形および端子バリ欠陥による半田付け欠陥を減らすために,単眼カメラによるステレオビジョンに基づいた3次元視覚的検査システムを提案する。この単眼カメラステレオの基線は画像処理手順により精密にキャリブレーションされたということを技術的に述べる。また,計算不一致に対して計測点座標を抽出し,誤差はオリジナルアルゴリズムにより低減される。その性能を人間による工業用顕微鏡を用いた検査の性能と比べて,提案した3次元検査は精度および処理コストにおいて代替手段となり得るであろう。3次元精度における実用的仕様は1画素未満であり,また,実験による性能もほぼ同等であったので,検査,とくに3次元検査における端子変形および端子バリ欠陥による半田付け欠陥は低減されたということが提案システムにより示された。ライン内検査を実現するために,本稿は,どのように人間による製品の検査をモデル化し,とくに製造過程においてコンピュータシステムにより実装されうるかということを提示する。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *固体素子 ,  *はんだ付 ,  故障検出 ,  *製品検査 ,  三次元 ,  カメラ ,  キャリブレーション ,  *画像処理 ,  立体視 ,  単眼カメラ ,  電子素子
準シソーラス用語： 電子デバイス

分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  図形・画像処理一般  (JE04010I)

引用文献 (15件)：

• TAMURA, H. Computer Image Processing. 2002
• EJIRI, M. Industrial applications of image processing. 1994
• KOSHIMIZU, H. Today's automated visual inspection systems. 1990
• Linx Corp. Practice image processing. 2000
• WATANABE, T. Image processing algorithm for alignment quality control of molded electronic devices datum surface of printed board. IEEJ Trans. EIS. 2004, 124, 3, 740-747

タイトルに関連する用語 (6件)： 単眼カメラ ,  ステレオ視 ,  電子デバイス ,  リード ,  3次元 ,  検査