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J-GLOBAL ID：200902240389048863   整理番号：09A0162768

表面過剰量の概念と天然および修飾表面への応用

Concept of Surface Excess Amount and Applications for Native and Modified Surfaces

著者 (1件)： TANI Kazue (Univ. Yamanashi, Yamanashi, JPN)
資料名： Chromatography  (Chromatography)
巻： 29  号： 3  ページ： 7-11  発行年： 2009年01月31日 
JST資料番号： L1501A  ISSN： 1342-8284  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 表面過剰量とそのクロマトグラフィー保持データからの計算のために,いくつかな重要な式について総括し,用いる近似法について述べた。更に層モデルを導入し,これを用いて吸着相の組成を計算し,絶対吸着量を算出した。非修飾および化学的修飾シリカの表面の性質について,その表面過剰等温線を測定することによりキャラクタライズした。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： 保持データ ,  近似法 ,  *保持容量 ,  *二成分系 ,  *吸着平衡 ,  固液界面 ,  数学モデル ,  *液体クロマトグラフィー ,  表面改質 ,  疎水性 ,  親水性 ,  二酸化ケイ素 ,  吸着量
準シソーラス用語： シリカ ,  表面過剰量

分類 (2件)： 液体クロマトグラフィー  (CC04014L) ,  固-液界面  (CB12050B)

引用文献 (3件)：

• EVERETT, D. H. Pure Appl. Chem. 1986, 58, 967-984
• RIEDO, F. J. Chromatogr. 1982, 239, 1-28
• KOHLER, J. J. Chromatogr. 1986, 352, 275-305

タイトルに関連する用語 (3件)： 概念 ,  修飾 ,  応用