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J-GLOBAL ID：200902240475138832   整理番号：08A1154446

TFA-MODプロセスによって成膜したB不足YBCO膜の成長プロセス

Growth process of Ba-poor YBCO film fabricated by TFA-MOD process

著者 (12件)： TADA K. (Kyushu Univ., Fukuoka, JPN) ,  YOSHIDA J. (Kyushu Univ., Fukuoka, JPN) ,  MORI N. (Kyushu Univ., Fukuoka, JPN) ,  YAMADA K. (Kyushu Univ., Fukuoka, JPN) ,  TERANISHI R. (Kyushu Univ., Fukuoka, JPN) ,  MUKAIDA M. (Kyushu Univ., Fukuoka, JPN) ,  KISS T. (Kyushu Univ., Fukuoka, JPN) ,  INOUE M. (Kyushu Univ., Fukuoka, JPN) ,  SHIOHARA Y. (ISTEC, Tokyo, JPN) ,  IZUMI T. (ISTEC, Tokyo, JPN) ,  MATSUDA J. (ISTEC, Tokyo, JPN) ,  NAKAOKA K. (ISTEC, Tokyo, JPN)
資料名： Advances in Superconductivity  (Advances in Superconductivity)
巻： 20th  ページ： 1554-1558  発行年： 2008年 
JST資料番号： L1458A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： TFA-MODプロセスは高いJ_cと低コストを可能にするYBCO膜成長に適している。このプロセスでは,出発溶液組成がY:Ba:Cu=1:1.5:3の場合に,化学量論組成の場合よりも高いJ_cと小さい細孔径が得られることが知られている。今回,様々なBa含有量のTFA出発溶液によってYBCO膜を作製して,Ba組成がYBCOの成長プロセスと微細構造に与える影響を調べた。この結果,Ba/Y=1.5の膜ではJ_cが高く,a軸配向Y123がBa/Y=2の膜よりも少なく,細孔も少ないことを確認した。Ba不足膜におけるこの細孔数の減少は,成長中のY123層に取込まれたB-Fリッチな未反応相粒子の径が小さいことに起因すると考えられ,以上の結果を総合して,a軸配向Y123及び細孔の低減がBa不足膜でJ_cが改善される原因と結論した。

シソーラス用語： *YBCO薄膜 ,  細孔径 ,  細孔構造 ,  臨界電流密度 ,  X線回折 ,  走査電子顕微鏡 ,  *透過型電子顕微鏡 ,  電子顕微鏡観察 ,  エネルギー分散型回折 ,  結晶構造 ,  脂肪族カルボン酸 ,  脂肪族フッ素化合物
準シソーラス用語： *MOD法 ,  組成依存性 ,  *超伝導臨界電流密度

分類 (2件)： 酸化物系超伝導体の物性  (BM04023I) ,  酸化物薄膜  (BK14050P)

物質索引 (1件)： TFA

タイトルに関連する用語 (5件)： TFA ,  プロセス ,  成膜 ,  YBCO膜 ,  成長