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J-GLOBAL ID：200902240664041971   整理番号：07A0810208

金属イオンを吸収する高分子電解質薄膜のX線異常分散効果を利用したSAXAによる構造解析

Structural Analysis of Polyelectrolyte Film Absorbing Metal Ion by SAXS Utilizing with X-ray Anomalous Dispersion Effect

著者 (10件)： SUGIYAMA Masaaki (Kyoto Univ., Osaka, JPN) ,  MITSUI Takao (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  SATO Takashi (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  AKAI Yoshinori (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  SOEJIMA Yuji (Kyushu Univ., Fukuoka, JPN) ,  ORIHARA Hiroshi (Hokkaido Univ., Sappro, JPN) ,  NA Yang-Ho (Hokkaido Univ., Sappro, JPN) ,  ITOH Keiji (Kyoto Univ., Osaka, JPN) ,  MORI Kazuhiro (Kyoto Univ., Osaka, JPN) ,  FUKUNAGA Toshiharu (Kyoto Univ., Osaka, JPN)
資料名： Journal of Physical Chemistry B  (Journal of Physical Chemistry B)
巻： 111  号： 29  ページ： 8663-8667  発行年： 2007年07月26日 
JST資料番号： W0921A  ISSN： 1520-6106  CODEN： JPCBFK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： X線異常分散効果を利用したSAXA(小角X線散乱)によって,...

シソーラス用語： *高分子電解質 ,...
準シソーラス用語： Nafion

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分類 (1件)： 高分子固体のその他の性質  (CG02025L)

タイトルに関連する用語 (6件)： 金属イオン ,  高分子電解質 ,  薄膜 ,  X線 ,  異常分散 ,  構造解析