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J-GLOBAL ID：200902241796536690   整理番号：05A0446315

イネ(Oryza sativa)の日印雑種におけるQTL(量的形質遺伝子座)に基づく葉の老化の分析

QTL-based analysis of leaf senescence in an indica/japonica hybrid in rice (Oryza sativa L.)

著者 (4件)： ABDELKHALIK Amr Farouk (Nihon Univ., Kanagawa, JPN) ,  SHISHIDO Rieko (Nihon Univ., Kanagawa, JPN) ,  NOMURA Kazunari (Nihon Univ., Kanagawa, JPN) ,  IKEHASHI Hiroshi (Nihon Univ., Kanagawa, JPN)
資料名： Theoretical and Applied Genetics  (Theoretical and Applied Genetics)
巻： 110  号： 7  ページ： 1226-1235  発行年： 2005年05月 
JST資料番号： D0382B  ISSN： 0040-5752  CODEN： THAGA6  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： ドイツ (DEU)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： イネの葉の老化が早いインド型品種「IR36」とそれが遅い日本...

シソーラス用語： *イネ ,...
準シソーラス用語： 連鎖 ,...

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分類 (3件)： 稲作  (FC03020C) ,  遺伝子の構造と化学  (EC02020U) ,  作物育種一般  (FC02010K)

タイトルに関連する用語 (8件)： イネ ,  Oryza ,  印 ,  雑種 ,  QTL ,  量的形質遺伝子座 ,  葉の老化 ,  分析