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J-GLOBAL ID：200902242338554708   整理番号：06A0076253

1-ブチル-3-メチル-イミダゾリウムビス(トリフルオロメタン)スルホンイミドのX線光電子分光及び低速イオン散乱研究

X-ray photoelectron spectroscopy and low energy ion scattering studies on 1-buthyl-3-methyl-imidazolium bis(trifluoromethane) sulfonimide

著者 (3件)： CAPORALI S. (Dipartimento di Chimica, Universita di Firenze e Consorzio Interuniversitario di Scienza e Tecnologia dei Materiali ...) ,  BARDI U. (Dipartimento di Chimica, Universita di Firenze e Consorzio Interuniversitario di Scienza e Tecnologia dei Materiali ...) ,  LAVACCHI A. (Dipartimento di Chimica, Universita di Firenze e Consorzio Interuniversitario di Scienza e Tecnologia dei Materiali ...)
資料名： Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena  (Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena)
巻： 151  号： 1  ページ： 4-8  発行年： 2006年03月 
JST資料番号： D0266C  ISSN： 0368-2048  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本稿では,X線光電子分光(XPS)と低速イオン散乱(LEIS...

シソーラス用語： *X線光電子スペクトル ,...
準シソーラス用語： 低速イオン散乱分光法

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分類 (2件)： 融解塩  (CB05050R) ,  電子分光スペクトル  (BM09060K)

物質索引 (2件)： イミダゾリウム ,  1-ブチル-3-メチル-1H-イミダゾール-3-イウム・ビス(トリフルオロメチルスルホニル)アミンアニオン

タイトルに関連する用語 (4件)： トリフルオロメタン ,  X線光電子分光 ,  低速イオン散乱 ,  研究