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J-GLOBAL ID：200902242863524232   整理番号：07A0105922

走査ゲート顕微法によるInGaAs量子ポイントコンタクトの観察

Observations of InGaAs-Quantum Point Contact via Scanning Gate Microscopy

著者 (2件)： 青木伸之 (千葉大 工) ,  落合勇一 (千葉大 工)
資料名： 固体物理  (Solid State Physics)
巻： 42  号： 1  ページ： 9-18  発行年： 2007年01月15日 
JST資料番号： F0158B  ISSN： 0454-4544  CODEN： KOTBA2  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： 原子間力顕微鏡 ,...
準シソーラス用語： *走査ゲート顕微法

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分類 (1件)： 電子顕微鏡,イオン顕微鏡  (BD02050B)

タイトルに関連する用語 (8件)： 走査 ,  ゲート ,  顕微法 ,  InGaAs ,  量子 ,  ポイント ,  コンタクト ,  観察