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J-GLOBAL ID:200902244432868808   整理番号:09A0946120

MEMSマイクロホンの落下試験性能を改善する手法

A method for improving the drop test performance of a MEMS microphone
著者 (6件):
資料名:
巻: 7362  ページ: 736214.1-736214.12  発行年: 2009年 
JST資料番号: D0943A  ISSN: 0277-786X  CODEN: PSISDG  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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電気機械コンデンサマイクロホン(MP)が携帯電話用として一般的になったが,MEMSMPは膜厚を薄くして感度を高めるので落下衝撃に弱い。今回,MEMSMPの衝撃強度を高めるため,膜の近くに安定な保護層を設置する方式を開発した。系の気流を記述するアナログ等価回路とMEMSチップの膜モデルを構築し,密封背面容積型MEMS構造をモデル化した。保護層は多数の小さな孔を有し,空気圧に対する低域フィルタを形成して高周波の圧力変化を低減し,共振励起による膜の損傷を防止する。感度の周波数応答を計算した。
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分類 (1件):
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