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J-GLOBAL ID：200902244995481896   整理番号：09A1281521

ロバストなシステムのための初期故障とエイジングの克服

Overcoming Early-Life Failure and Aging for Robust Systems

著者 (5件)： LI Yanjing (Stanford Univ.) ,  KIM Young Moon (Stanford Univ.) ,  MINTARNO Evelyn (Stanford Univ.) ,  MITRA Subhasish (Stanford Univ.) ,  GARDNER Donald S. (Intel Labs)
資料名： IEEE Design & Test of Computers  (IEEE Design & Test of Computers)
巻： 26  号： 6  ページ： 28-39  発行年： 2009年11月 
JST資料番号： B0007C  ISSN： 0740-7475  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ロバストな計算機システムを設計するためには,回路故障予測と,CASP(蓄積試験パターンを用いる同時自律チップ自己試験・診断)オンライン診断などが,経済的であることを述べた。誤り訂正符号,三重系冗長設計,BISTなどの既存の誤り検出技法は,電力,性能,および設計の複雑さの点で,経済的ではない。負バイアス温度不安定性(NBTI)によるPMOSトランジスタのエイジングに対する回路故障予測技法を説明し,90nmの試験チップ(インバータチェイン)のゲート酸化膜の初期故障に適用した実験例を示した。CASPの概要,実装,最適化,および実施例を述べた。また,自己回復もロバストなシステム設計に必須の要素であることを論じた。

シソーラス用語： 初期故障 ,  ロバスト性 ,  *計算機システム ,  加齢 ,  信頼性設計 ,  誤り検出 ,  予測
準シソーラス用語： エイジング ,  故障予測

分類 (1件)： ディジタル計算機ハードウェア一般  (JC04010C)

タイトルに関連する用語 (3件)： ロバスト ,  初期故障 ,  エイジング