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J-GLOBAL ID：200902245618284071   整理番号：07A0397931

Zernike静電位相板の製作と適用

The fabrication and application of Zernike electrostatic phase plate

著者 (9件)： HUANG Sen-Hui (National Tsing-Hua Univ., HsinChu) ,  WANG Wan-Jhih (National Tsing-Hua Univ., HsinChu) ,  CHANG Chia-Seng (Academia Sinica, Taipei) ,  HWU Yeu-Kuang (Academia Sinica, Taipei) ,  TSENG Fan-Gang (National Tsing-Hua Univ., HsinChu) ,  KAI Ji-Jung (National Tsing-Hua Univ., HsinChu) ,  CHEN Fu-Rong (National Tsing-Hua Univ., HsinChu) ,  CHEN Fu-Rong (Academia Sinica, Taipei) ,  CHEN Fu-Rong (National Synchrotron Radiation Res. Center, HsinChu, TWN)
資料名： Journal of Electron Microscopy  (Journal of Electron Microscopy)
巻： 55  号： 6  ページ： 273-280  発行年： 2006年12月 
JST資料番号： W1384A  ISSN： 0022-0744  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： マイクロエレクトロメカニカルシステム(MEMS)を使用して,...

シソーラス用語： マイクロマシン ,...
準シソーラス用語： 静電位相板 ,...

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分類 (1件)： 電子顕微鏡,イオン顕微鏡  (BD02050B)

引用文献 (22件)：

• WILLIAMS, D B. Transmission Electron Microscopy. 1996
• BUSECK, P R. High-Resolution Transmission Electron Microscopy and Associated Techniques. 1992
• COWLEY, J M. Diffraction Physics. 1995
• SPENCE, J C H. High-Resolution Electron Microscopy. 2003
• ZERNIKE, F. Phase contrast, a new method for the microscopic observation of transparent objects. Physica. 1942, 9, 686-693

タイトルに関連する用語 (2件)： 位相板 ,  製作