文献

J-GLOBAL ID：200902246537042592   整理番号：05A0709884

単色X線励起蛍光X線分析による堆積物参照物質中の痕跡元素の定量

Determination of Trace Elements in Sediment Reference Materials by Monochromatic X-ray Excitation X-ray Fluorescence Spectrometry

著者 (3件)： KURAHASHI Masayasu (National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Ibaraki, JPN) ,  MIZUTANI Jun (National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Ibaraki, JPN) ,  HIOKI Akiharu (National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Ibaraki, JPN)
資料名： Analytical Sciences  (Analytical Sciences)
巻： 21  号： 7  ページ： 827-832  発行年： 2005年07月10日 
JST資料番号： G0673B  ISSN： 0910-6340  CODEN： ANSCEN  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 新しい信頼できる分析法,「単色X線励起蛍光X線分析」を提案し...

シソーラス用語： *堆積物 ,...
準シソーラス用語： X線蛍光分析

   続きはJDreamIII（有料）にて  {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=05A0709884&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=G0673B") }}

分類 (1件)： 鉱物・岩石・鉱石の物理分析  (CC03090Y)

引用文献 (15件)：

• 1. BIPM, IEC, IFCC, ISO, IUPAC, IUPAP, and OIML, “International Vocabulary of Basic and General Terms in Metrology”, 2nd ed., 1993, ISO Geneva, 24.
• 2. Resolutions adapted by the 20th Conference Generale des Poids et Mesures, 1995, 15.
• 3. A. Iida, K. Sakurai, T. Matsusita, and Y. Gohshi, Nucl. Instr. Meth., 1985, 228, 556.
• 4. R. D. Giauque, J. M. Jaklevic, and A. C. Thompson, Anal. Chem., 1986, 58, 940.
• 5. T. Wakisaka, N. Morita, M. Wakasa, S. Terada, K. Nishihagi, and K. Taniguchi, Bunseki Kagaku, 1996, 45, 933.

タイトルに関連する用語 (6件)： 単色X線 ,  励起 ,  蛍光X線分析 ,  堆積物 ,  痕跡元素 ,  定量