ARBIOL Jordi について
GAEN-CeMARC, Group of Advanced Electron Nanoscopy - Centre de Microscopia d’Alta Resolucio de Catalunya, Univ. de ... について
FONTCUBERTA I MORRAL Anna について
Lab. de Physique des Interfaces et Couches Minces, Ecole Polytechnique, 91128 Palaiseau Cedex, FRA について
ESTRADE Sonia について
EME/XaRMAE/IN2UB, Departament d’Electronica, Univ. de Barcelona, E-08028 Barcelona, Catalonia, ESP について
PEIRO Francesca について
EME/XaRMAE/IN2UB, Departament d’Electronica, Univ. de Barcelona, E-08028 Barcelona, Catalonia, ESP について
KALACHE Billel について
Lab. de Physique des Interfaces et Couches Minces, Ecole Polytechnique, 91128 Palaiseau Cedex, FRA について
ROCA I CABARROCAS Pere について
Lab. de Physique des Interfaces et Couches Minces, Ecole Polytechnique, 91128 Palaiseau Cedex, FRA について
MORANTE Joan Ramon について
EME/XaRMAE/IN2UB, Departament d’Electronica, Univ. de Barcelona, E-08028 Barcelona, Catalonia, ESP について
Journal of Applied Physics について
ケイ素 について
ナノワイヤ について
化学蒸着 について
銅触媒 について
双晶 について
ファセット について
積層構造 について
ヘテロ接合 について
ダイヤモンド型結晶 について
立方晶系 について
六方晶系 について
量子井戸 について
バンド構造 について
電子顕微鏡観察 について
半導体薄膜 について
触媒化学蒸着 について
半導体薄膜 について
Cu触媒 について
Si について
ナノワイヤ について
ダイアモンド について
立方晶系 について
六方晶系 について
テロ について
双晶 について